QDGF-J05

QDGF-J05

SiO₂含量 99.99%,严格控制铝、铁、钠、氯等杂质,D50=5.2μm,粒径细小且分布窄。莫氏硬度 7.0,介电常数 4.6,介电损耗低,热膨胀系数小,热传导性能优异,化学稳定性好,适合高纯度、细粒径要求的电子、半导体、光纤封装场景。

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